


半導體事業
為客(ke)戶(hu)提供高效穩定的一(yi)站(zhan)式半(ban)導(dao)體設(she)備供應商
事業部圍繞半導體產業鏈,以檢測設備為核心業務,同時對半導體其他先進制程設備做未來戰略布局。產品已覆蓋SoC芯片檢測、
CIS芯(xin)(xin)片檢(jian)測(ce)(ce)、BMS芯(xin)(xin)片檢(jian)測(ce)(ce)、RF射頻(pin)芯(xin)(xin)片檢(jian)測(ce)(ce)及針對先(xian)進封裝SiP芯(xin)(xin)片等一站式解決方案的檢(jian)測(ce)(ce),同時AOI包(bao)括晶圓(yuan)缺陷檢(jian)測(ce)(ce)和芯(xin)(xin)片六面檢(jian)測(ce)(ce)等業務。
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測試機
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分選機
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AOI設備
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BMS檢測設備
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耗材

特點與優勢
事業(ye)部在(zai)芯片的(de)電學(xue)測(ce)量(liang)(liang)、光學(xue)測(ce)量(liang)(liang)、圖像測(ce)量(liang)(liang)、高精(jing)度自動化(hua)控(kong)制技術(shu)和(he)可靠性的(de)壓接技術(shu)等方(fang)(fang)面(mian)掌握核心(xin)的(de)關(guan)鍵技術(shu),通過發(fa)揮海內(nei)外、多學(xue)科綜合能力(li)優勢,為客(ke)戶提(ti)供了高效率、低成(cheng)本的(de)一站(zhan)式檢測(ce)解決(jue)方(fang)(fang)案,同時也(ye)在(zai)部分先進(jin)設備上(shang)實(shi)現(xian)了關(guan)鍵核心(xin)技術(shu)攻關(guan)。產(chan)品(pin)已得(de)到客(ke)戶認可,并已成(cheng)功在(zai)國(guo)內(nei)外半導體產(chan)業(ye)頭部企業(ye)獲得(de)批量(liang)(liang)化(hua)的(de)量(liang)(liang)產(chan)訂(ding)單。
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技術
完全自主研發、高效、
穩(wen)定和(he)功能全(quan)覆(fu)蓋的軟件測試平臺 -
產品
測試機(ji)、分選機(ji)、AOI及耗(hao)材等(deng)一站式解決方(fang)案(an)
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交期
標(biao)準化(hua)產品,較短交期
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技術團隊
AE、FSE工程師近百(bai)人
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測試機系列
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分選機系列
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AOI系列
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定制化系列
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T7600系列 SoC數字測試機
- 6槽(T7600S)數字通道最高支持768通道電源通道支持72路
- 12槽(T7600M)數字通道最高支持1536通道電源通道支持144路
- 18槽(7600H)數字通道最高支持2304通道電源通道支持216路
- 數字板卡DP128128數字通道、400Mbps、12路DPS、4路RVS、4路BPMU
- FVI32浮動電壓板卡最高支持32通道電壓范圍:±10V電壓精度:≤±0.5mV最大電流:38.4A(每路1.2A)支持電壓通道并聯
- DPS64電源板卡最高支持64通道電壓范圍: -2.5~8V電流輸出:每路1.5A并聯電流:96A
- MX32模擬板卡高速HS : 0~250MHz, 高精度HR : 0~40KHz,
總諧波失真THD -115dB多種通道配置方式16 HS AWG+16 HS DIG16 HR AWG+16 HR DIG8 HS AWG + 8 HS DIG + 8 HR AWG+8 HR DIG
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PXIe平臺測試設備
- 兩款機箱6槽PXIe-C0601、12槽PXIe-C1201
- 多款自主研發板卡數字板卡,電源板卡、模擬板卡和射頻板卡等
- 與其他品牌系統相互兼容
- 搭配自主開發的多功能軟件開發平臺
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E06 CIS圖像傳感器測試機
- 最高支持16site并行測試
- 支持MIPI、DVP和LVDS接口MIPI最高支持1.6Gbps/laneLVDS最高支持1.0Gbps/lane
- 電流性能192直流通道和96路電源通道
- 數字性能數字最高支持384路、400Mbps
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TS1800 射頻芯片測試機
- 測試頻率最高 6GHz,功率可達 35dBm
- 支持SPI、MIPI和自定義數字通信庫
- 噪聲系數測量:支持Y因子法和冷源法
- 32個雙向射頻端口,高功率8進8出
- 國內芯片龍頭企業穩定量產
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EP2000 16 Site CIS平移式分選機
- 支持16site并行測試
- 支持自帶光源或搭載其他型號光源
- 最高UPH:4,500
- 最小被檢產品尺寸2mm×2mm
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EP3000 128 Site平移式分選機
- 支持128 Sites并行測試
- UPH>11,000 (T.T.>30s)
- Jam Rate<1/5000
- 最小被檢產品尺寸2mm×2mm
- 支持二維碼,字符及芯片正反識別
- 支持SECS/GEM及完備的軟件分析工具
- Handler + PXIe 全平臺解決方案
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ET20/ET32 轉塔分選機
- 兩個機型20站、32站
- 支持6面檢查
- 支持QFN、DFN、SOIC等封裝
- UPH>30,000
- MTBA>1h
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晶圓AOI宏觀缺陷檢測自動化檢測設備
- 高定位精度移動平臺結合超高幀率數據采集能力,滿足客戶產能要求
- 亞微米光學解析精度,應對制造工藝中檢出需求
- 支持BF/DF多模式成像形式,更直觀展現缺陷圖像
- 結合深度學習算法缺陷自動分類,釋放人力節約成本
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電池管理系統自動化檢測解決方案
- 自主研發的電池管理芯片檢測設備
- 完全取代人工檢測
- 數據實時上傳客戶端MES系統
- 國際手機龍頭企業指定產品
- 支持載具自動上下料及壽命管理
- 支持絕大部分BMS芯片、BMU、電池Pack測試
- 實現超寬電壓、電流范圍內的高精度檢測
- 最小測量精度:電壓0.3mV、電流0.4μA
- 國內外通用儀器儀表類檢測標準
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六面檢查自動化檢測設備
- 實現UPH高達15K六面外觀檢查
- Tray in 方式有效避免高端芯片二次損傷
- AI算法與傳統算法相結合、定制光學系統
- 實現OCR/二維碼讀取 包含各面缺陷類型
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